透射電子顯微鏡的顯微觀(guān)察分析情況

發(fā)布時(shí)間:2020-02-20 10:34:24 文章分類(lèi)： 點(diǎn)擊數(shù)：

透射電子顯微鏡的顯微觀(guān)察分析情況

 

透射電子顯微鏡我們又稱(chēng)之為T(mén)EM,對(duì)于透射電子顯微鏡

來(lái)說(shuō)，它主要是以分場(chǎng)發(fā)射和熱陰極電子發(fā)射兩種情況

下進(jìn)行的檢測(cè)。

 

而我們所常用它來(lái)研究納米材料的結(jié)晶結(jié)構(gòu)組織情況特

征，主要是通過(guò)觀(guān)察納米粒子的形貌以及分散情況的。

 

同時(shí)還用透射電子顯微鏡來(lái)觀(guān)察測(cè)量評(píng)估納米粒子的粒

徑，通常情況下我們所使用的這種顯微鏡就是利用這種

方法進(jìn)行顯微分析的。

 

因此在使用這種透射電子顯微鏡時(shí)，則主要是使用我們

所知道的常用的納米復(fù)合材料對(duì)材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)組織的

表面特征進(jìn)行檢測(cè) 的技術(shù)之一。