顯微觀察時的兩個X軸Y軸掃描

發布時間:2018-08-27 10:54:48 文章分類： 點擊數：

顯微觀察時的兩個X軸Y軸掃描

 

通常情況下對于顯微觀察時使用顯微鏡上的X軸Y軸掃描時

則多數情況下則是使用多光束掃描，同時我們也把這種掃

描稱為尼普可夫圓盤掃描。

 

一般情況下對于X軸Y軸掃描光束掃描技術來說則需要提供

一個可以替代單光束掃描的配置照明效率低的同時。

 

還需要對我們所需要使用的X軸Y軸掃描的速度更加快外，

則對于其中旋轉圓盤掃描儀上面則有數百個孔的。

 

這就是說X軸Y軸掃描的主要是功能則是可以把它作為照明

和近端的一個針孔，這主要是由于磁盤進行掃描時顯微鏡

上就形成一個被你，這樣就可以直接位于照相機的圖像平

面中。