顯微鏡對晶體的光學(xué)性質(zhì)鑒定

發(fā)布時(shí)間:2018-06-30 18:25:49 文章分類： 點(diǎn)擊數(shù)：

顯微鏡對晶體的光學(xué)性質(zhì)鑒定

 

對于偏光顯微鏡上的上偏光鏡的構(gòu)造以及主要作用則是

與下偏光鏡相同的，它們的振動(dòng)方向與下偏光鏡的振動(dòng)

方向是相互垂直的。

 

而它們的不同這處在于上偏光可以進(jìn)行推入或是拉出，

但不可以進(jìn)行上下移動(dòng)，而下偏光鏡則是一個(gè)可以進(jìn)行

上下調(diào)節(jié)移動(dòng)的部件。

 

而我們在使用偏光顯微鏡時(shí)除了使用上或是下偏光鏡外

，還使用其他一些附件進(jìn)行晶體光學(xué)性質(zhì)的鑒定。

 

因此對于偏光檢測時(shí)鑒定晶體物質(zhì)的主形貌特征性質(zhì)，

則是利用附件組合成單偏光或是正交偏光與錐光進(jìn)行光

學(xué)分析鑒定晶體的光學(xué)性質(zhì)。